測試程序在LED壽命試驗中,先對試驗樣品進行光電參數(shù)測試篩選,淘汰光電參數(shù)超規(guī)或異常 的器件,合格者進行逐一編號并進行壽命試驗,完成連續(xù)試驗后進行復測,以獲得壽命試驗 結果。為了使壽命試驗結果客觀、正確,除做好測試儀器的計量外,還規(guī)定原則上試驗前后 所采用的是同一臺測試儀測試,以減少不必要的誤差因素。
6.LED的壽命的預測對壽命的預測是LED行內(nèi)普遍的迫切的要求,LED通常以發(fā)光強度或光通量衰減到初 始值50%的時間為半衰期,對于LED壽命的預測,IEC多次召開光源專家會議在起草相關 通過提高溫度進行加速壽命的試驗。
一般把壽命預測試驗分為兩類。
(1)長期壽命試驗。為了確認LED燈具壽命是否達到3.5萬h,按美國ASSIST 聯(lián)盟規(guī) 定,應進行長期壽命試驗,首先需要電老化1000h后,測出光通量作為初始值。然后加額定 電流通電3000h,測量光通量應該衰減要小于4%,再繼續(xù)通電3000h,光通量衰減要小于 8%,再通電4000h,測得光通量衰減要小于初始值的14%,這樣在光通量測出后通電共 1.1萬h,而光通量達到初始值的86%以上。此時才可證明確保LED壽命達到3.5萬h。該 辦法比較麻煩,1.1萬h意味著要試驗1年多,其實用意義確實不大。
(2)加速壽命試驗。電子器件加速壽命試驗可以在加大應力(此處應力并非機械上的應 力,而指相應的實驗條件)下進行試驗,這里要討論的是采用溫度應力的辦法,測量計算出 來的壽命是LED平均壽命,即MTTF。《信息技術與標準化》雜志提出該方法,采用此方 法將會大大地縮短LED壽命的測試時間,有利于及時改進、提高 LED可靠性。加大溫度應 力的壽命試驗方法已經(jīng)有不少資料提及,主要是引用"亞瑪卡西"(yamakoshi)的發(fā)光管光 功率緩慢退化公式,通過退化系數(shù)得到不同加速應力溫度下LED的壽命試驗數(shù)據(jù),再用 "阿倫尼斯"(Arrhenius)方程的數(shù)值解析法得到正常應力下的 LED的平均壽命,簡稱"退 化系數(shù)解析法",該方法采用三個不同應力溫度即165、175、185℃下,測量的數(shù)據(jù)計算出 室溫下平均壽命的一致性。該試驗方法是可靠的,其依據(jù)是國家標準(GB 1772)規(guī)定的電 子元器件加速壽命試驗方法,選擇了工作環(huán)境溫度作為加速應力。
目前相關單位已起草制定 "半導體發(fā)光二極管壽命的試驗方法"標準,國內(nèi)一些企業(yè)也同時研制加速壽命試驗的設備 儀器。這對LED產(chǎn)業(yè)的發(fā)展起來推動作用。除了采用溫度應力,還可采用電流應力的辦法 對大功率LED作加速壽命試驗,采用1.5 倍的電流,或加以溫度應力,可以做一綜合嘗試。目前使用的 LED路燈,如廠家通過加速老化試驗,以及國家檢測機構的測試和測算, 5000h的光衰率小于3%,由此推斷光衰到70%需要50 000h。這一數(shù)據(jù)在一年多的實踐中 已經(jīng)得到證明,通過該測試的 LED燈作為道路照明應該是放心的。http://www.putaodi.cn/
